為什么電池制造商要了解激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)?
電池制造商要不斷提高產(chǎn)能。他們需要以經(jīng)濟(jì)、高效和可靠的方式保證質(zhì)量。檢測鋰離子電池中的雜質(zhì)時,通常要用到掃描電子顯微鏡(SEM)和能量色散X射線譜儀(EDS/EDX)。SEM/EDS操作起來復(fù)雜、耗時,難以集成到生產(chǎn)中。近期,一種新方法通過利用光學(xué)顯微鏡和激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS),可支持同時進(jìn)行視覺和化學(xué)分析,以提高QA/QC的效率。
引言
2019年,全球鋰離子(Li-Ion)電池市場價值為329億美元,從2020年到2027年,這一數(shù)字預(yù)計將以13.0%的復(fù)合年增長率(CAGR)持續(xù)增長[1]。電動汽車需求的快速增長是推動市場發(fā)展的重要因素,但不是wei yi因素,其他因素包括可再生能源裝置日益普及(如光伏板),各種醫(yī)療設(shè)備廣泛采用鋰離子電池,以及便攜式消費(fèi)電子產(chǎn)品的市場逐步擴(kuò)大。
鋰離子電池的性能提升后,越來越受各行各業(yè)的市場歡迎,但自身也遇到了發(fā)展瓶頸。人們?nèi)匀粨?dān)心鋰離子電池過熱的問題,特別是當(dāng)充電過快時。電動汽車必須快速充電,因此這方面的安全性非常重要。鋰離子電池的壽命通常較短,許多鋰離子電池的充電/放電周期不足1,000次[2,3]。
這些問題大多可以在制造過程的質(zhì)量控制階段成功解決。電池在使用過程中過熱,往往是因為電極、燃料電池分離器和鋰離子電池的其他部件中存在的金屬顆粒。這些顆粒會導(dǎo)致內(nèi)部短路,從而引起過熱,降低電池容量和壽命,甚至在ji duan情況下會引發(fā)火災(zāi)[4-6]。
市場對相關(guān)產(chǎn)品的需求急劇上升,因此電池制造商既希望QA/QC程序足夠高效,能夠捕獲這些雜質(zhì);但又不至于太過繁瑣,以免拖慢制造過程或產(chǎn)生大量額外成本。
技術(shù)挑戰(zhàn)
制造商檢測鋰離子電池中雜質(zhì)的既定方法復(fù)雜、耗時,而且很難整合到生產(chǎn)線上,這是他們面臨的一大難題[7]。
在工業(yè)制造環(huán)境中,搭載掃描電子顯微鏡(SEM)的能量色散X射線譜儀(EDS)是常用的質(zhì)量控制設(shè)備。研究人員可借助SEM-EDS,利用一種能生成高分辨率、高對比度圖像的顯微鏡技術(shù)對材料進(jìn)行目視檢查,并通過元素光譜分析確定其局部成分。
SEM-EDS通常需要制備特殊樣品,并將樣品轉(zhuǎn)移到真空中進(jìn)行觀察和分析——這個過程比較耗時,而且技術(shù)難度不小。在電池制造和質(zhì)量控制中,SEM-EDS在檢測鋰(Li)方面也存在操作缺陷,而鋰元素則是可充電電池技術(shù)最重要的元素[7]。此外,由于SEM-EDS是一種復(fù)雜的成像方法,因此很難直接整合到生產(chǎn)線中。樣品需要被送出生產(chǎn)線進(jìn)行分析,幾個小時甚至幾天后才能得到分析結(jié)果,這拖慢了生產(chǎn)過程、浪費(fèi)了時間、推高了成本。
X射線熒光(XRF)和輝光放電發(fā)射光譜法(GD-OES)更便于整合到生產(chǎn)線中,但也有其他缺點。XRF不能準(zhǔn)確檢測鋰等輕元素[8,9],而GD-OES往往會嚴(yán)重?fù)p壞樣品,并且不適用于檢測絕緣材料[9-11]。
新技術(shù)
一種新方法正在電池制造和其他工業(yè)應(yīng)用中嶄露頭角:將光學(xué)顯微鏡和激光誘導(dǎo)擊穿光譜(或LIBS)結(jié)合起來,在更短的時間內(nèi)獲得視覺和化學(xué)樣品信息。
LIBS可用于分析材料成分,高能量激光脈沖會擊中材料表面的目標(biāo)區(qū)域,能量經(jīng)過吸收后,導(dǎo)致局部區(qū)域被燒蝕并形成凹口。等離子體經(jīng)過誘發(fā),然后立即分解,從而發(fā)射出光,此時檢測元素線光譜,即可確定元素。
這種方法無需使用掃描電鏡,所以可省去許多耗時的步驟:分析前無需額外制備樣品;樣品無需在真空中觀察,所以空氣中的干或濕樣品都可以分析;而且待樣品轉(zhuǎn)移后,無需重新定位樣品上的感興趣區(qū)域或調(diào)整系統(tǒng)。結(jié)果數(shù)秒內(nèi)即可生成,因此質(zhì)控過程中的分析環(huán)節(jié)可以快速完成,無需借助于實驗室——成本也因此大幅下降。
近年來,Leica Microsystems在該領(lǐng)域投入了大量的時間和資源,因為我們很看好這項技術(shù)的前景。時效和準(zhǔn)確性對長期成功至關(guān)重要。Leica Microsystems的DM6 M LIBS系統(tǒng)專為電池制造等工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計,能更快地提供結(jié)果。
走向未來
許多行業(yè)還沒有接受LIBS,也許是因為SEM-EDS、XRF或GD-OES還是目前gong ren的解決方案。的確,在各行各業(yè)的產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量控制和故障分析中(特別是在電池制造中),獲得可靠的結(jié)果和理想的產(chǎn)品質(zhì)量始終是重中之重。但是,工業(yè)制造商絕不能讓“試過,但沒成功"的想法阻礙進(jìn)步,或否認(rèn)大膽嘗試在提升生產(chǎn)力和盈利能力方面的巨大作用。SEM-EDS和其他技術(shù)在某些應(yīng)用中仍有很大的價值,但面對快速變化的生產(chǎn)節(jié)奏,要想確保質(zhì)量控制始終快速、準(zhǔn)確,制造商就應(yīng)該考慮啟用光學(xué)顯微鏡和LIBS——等他們看到新方法的優(yōu)勢時,他們將慶幸自己做出了正確的選擇。
原文發(fā)表于2021年4月13日《電氣工程》。
參考文獻(xiàn)
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