離子束切割儀是一種用于物理學(xué)領(lǐng)域的工藝試驗(yàn)儀器，用于樣品的截面制備及平面拋光。Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可以靈活選擇多種樣品臺(tái)，不僅適用于高通量實(shí)驗(yàn)，也適合于特定制樣需求實(shí)驗(yàn)室。儀器可用來制備橫切面和拋光表面，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。

 

Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀具有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)？

 

1、*的三離子束系統(tǒng)，可獲得更好的截面處理質(zhì)量，快速獲得寬且深的切割區(qū)域，大大降低工作時(shí)間。并可實(shí)現(xiàn)在一次處理過程中處理 3 個(gè)樣品。因此對(duì)有高通量需求的實(shí)驗(yàn)室，徠卡EM TIC 3X是更理想的解決方案。

 

2、樣品托：多種多樣的樣品托，適合于各類尺寸樣品

 

3、可裝配系統(tǒng)：根據(jù)樣品制備需要，可以有針對(duì)性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設(shè)計(jì)樣品臺(tái)——標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)、多樣品臺(tái)或冷凍樣品臺(tái)。

 

4、樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見：除了剖面切割，使用同一樣品托還可對(duì)樣品進(jìn)行清潔及增強(qiáng)襯度的功能。

 

5、冷凍樣品臺(tái)：針對(duì)溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等，可以使用冷凍樣品臺(tái)對(duì)樣品進(jìn)行低溫下處理，獲得高質(zhì)量處理結(jié)果。樣品托和擋板的溫度都可達(dá)到-150℃。